The use of finite element method for simulation of heat conductivity processes in polar dielectrics irradiated by electron bunches

 pdf (530K)  / Annotation

List of references:

  1. Л. А. Бакалейников, Е. В. Галактионов, В. В. Третьяков, Э. А. Троп. Расчет теплового воздействия электронного зонда на образец нитрида галлия // ФТТ. — 2001. — Т. 43, № 5. — С. 779–785.
  2. Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. — М: Мир, 1984. — 348 с.
  3. Г. Карслоу, Д. Егер. Теплопроводность твердых тел. — М: Наука, 1964. — 490 с.
  4. И. К. Кикоин. Таблицы физических величин. — М: Атомиздат, 1976. — 1008 с.
  5. М. Лайнс, А. Гласс. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы. — М: Мир, 1981. — 725 с.
  6. Л. К. Мартисон, Ю. И. Малов. Дифференциальные уравнения математической физики. — М: МГТУ им. Баумана, 1996. — 350 с.
  7. А. Г. Масловская. Анализ тепловых эффектов, возникающих при взаимодействии электронных пучков с сегнетоэлектрическими кристаллами // Известия вузов. Физика. — 2010. — № 1. — С. 34–40.
  8. А. Г. Масловская. Моделирование теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии // Информатика и системы управления. — 2007. — Т. 14, № 2. — С. 40–51.
  9. А. Г. Масловская, А. В. Сивунов. Расчет тепловой нагрузки на кристалл ниобата лития при электронном облучении // Известия вузов. Физика. — 2011. — Т. 2, № 1. — С. 80–86.
  10. Л. Дж. Сегерлинд. Применение метода конечных элементов. — М: Мир, 1979. — 388 с.
  11. М. Н. Филиппов. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии рентгеноспектральном анализе // Изв. РАН. Сер. физич. — 1993. — № 8. — С. 163–171.
  12. В. Ф. Формалев, Д. Л. Ревизников. Численные методы. — М: ФИЗМАТЛИТ, 2006. — 400 с.
  13. D. Drouin, A. Couture, D. Joly, X. Tastet, V. Aimez, R. Gauvin. CASINO V2.42 — A Fast and Easy-touse Modeling Tool for Scanning Electron Microscopy and Microanalysis Users // Scanning. — 2007. — V. 29. — P. 92–101. — DOI: 10.1002/sca.20000.
  14. E. Napchan. Monte Carlo Simulation of Electron Trajectory // European Microscopy and Analysis. — 1992. — V. 2. — P. 21–23.

Indexed in Scopus

Full-text version of the journal is also available on the web site of the scientific electronic library eLIBRARY.RU

The journal is included in the Russian Science Citation Index

The journal is included in the RSCI

International Interdisciplinary Conference "Mathematics. Computing. Education"