All issues

List of references:

1. К. Ш. Абдрахманов. Методы и средства измерений пространственно-энергетических характеристик импульсного лазерного излучения. — М, 2013. — 140 с. — дис. ... канд. техн. наук: 05.11.16 [место защиты: Всерос. науч.-исслед. ин-т оптико-физ. измерений].
2. Методы измерений ширин, углов расходимости и коэффициентов распространения лазерных пучков. Часть 1. Стигматические (гомоцентрические) и слабоастигматические пучки. — М: Стандартинформ, 2010. — 20 с. — ГОСТ Р ИСО 11146-1-2008.
3. М. В. Конник, Э. А. Маныкин, С. Н. Стариков. Расширение возможностей коммерческой цифровой фотокамеры для регистрации пространственных распределений интенсивности лазерного излучения // Квантовая электроника. — 2010. — Т. 40, № 4. — С. 314–320.
4. П. В. Кострюков. Пространственная структура излучения при синхронизации поперечных мод в лазерах с продольной накачкой. — М, 2009. — 20 с. — автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.2 [место защиты: Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова].
5. И. С. Мацак, В. Ю. Тугаенко, Е. С. Сергеев. Метод измерения диаметра широкоапертурного пучка лазерного излучения // Метрология. — 2014. — № 4. — С. 13–24.
6. Ю. В. Шелдакова. Диагностика лазерных пучков и управление их пространственными характеристиками методами адаптивной оптики. — М, 2007. — 149 с. — диссертация ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.21 [место защиты: Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова].
7. Э. Шефер. Эффективное число битов (ENOB) цифрового осциллографа R&S // Контрольноизмерительные приборы и системы. — 2011. — № 3. — С. 27–32.
8. N. Asada, A. Amano, M. Baba. Photometric calibration of zoom lens systems / Proceedings of the 13th International Conference on Pattern Recognition. — 1996. — V. 1. — P. 186–190.
9. B. Baker. A Glossary of Analog-to-Digital Specifications and Performance Characteristics. — Texas Instruments, 2008. — Technical Report SBAA147A.
10. E. Bhasker, R. Juang, A. Majumder. Registration Techniques for Using Imperfect and Partially Calibrated Devices in Planar Multi-Projector Displays // IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics. — 2007. — V. 13, no. 6. — P. 1368–1375. — DOI: 10.1109/TVCG.2007.70586.
11. P. B. Catrysse, X. Liu, A. El Gamal. QE reduction due to pixel vignetting in CMOS image sensors / Proc. SPIE 3965, Sensors and Camera Systems for Scientific, Industrial, and Digital Photography Applications. — V. 420. — May 15, 2000.
12. EMVA Standard 1288. Standard for Characterization of Image Sensors and Cameras. — European Machine Vision Association, 2010. — 36 p. — Release 3.0. — http://www.emva.org/cms/upload/Standards/Stadard_1288/EMVA1288-3.0.pdf. — (дата обращения 26.05.2014).
13. W. Kester. Analog-Digital Conversion, Analog Devices, Chapter 6. — 2004.
14. Y. Li. Light beams with flat-topped profiles // Opt. Lett. — 2002. — V. 27. — P. 1007–1009. — DOI: 10.1364/OL.27.001007. — ads: 2002OptL...27.1007L.
15. B. E. Chertok, et al. Remote Electric Power Transfer Between Spacecrafts by Infrared Beamed Energy / AIP Conference Proceedings. — 2011. — V. 1402. — P. 489–496.
16. C. B. Roundy. CCD camera baseline calibration and its effects on imaging processing and laser beam analysis / Proc. SPIE 3110, 10th Meeting on Optical Engineering in Israel. — 1997. — V. 860. — P. 860–879. — ads: 1997SPIE.3110..860R.
17. C. B. Roundy. Techniques for accurately measuring laser beam width with commercial CCD cameras / Proc. SPIE 3405, ROMOPTO '97: Fifth Conference on Optics. — 1998. — V. 1045. — P. 1045–1055. — ads: 1998SPIE.3405.1045R.
18. D. L. Shealy, J. A. Hoffnagle. Laser beam shaping profiles and propagation // Appl. Opt. — 2006. — V. 45. — P. 5118–5131. — DOI: 10.1364/AO.45.005118. — ads: 2006ApOpt..45.5118S.
19. J. Weng, P. Cohen, M. Herniou. Camera calibration with distortion models and accuracy evaluation // Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. — 1992. — V. 14, no. 10. — P. 965–980. — DOI: 10.1109/34.159901.