All issues
- 2024 Vol. 16
- 2023 Vol. 15
- 2022 Vol. 14
- 2021 Vol. 13
- 2020 Vol. 12
- 2019 Vol. 11
- 2018 Vol. 10
- 2017 Vol. 9
- 2016 Vol. 8
- 2015 Vol. 7
- 2014 Vol. 6
- 2013 Vol. 5
- 2012 Vol. 4
- 2011 Vol. 3
- 2010 Vol. 2
- 2009 Vol. 1
Numerical simulation of charging processes at ferroelectric diagnostics with scanning electron microscopy techniques
pdf (1030K)
/ Annotation
List of references:
- Моделирование методом Монте-Карло транспорта электронов в заряженных при облучении кристаллических диэлектриков // Математическое моделирование. — 2009. — Т. 20, № 6. — С. 79–85. , .
- Физико-математическое моделирование индуцированной электронным зондом зарядки сегнетоэлектриков в процессе переключения доменной структуры // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013. — № 7. — С. 84–88. .
- Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами. — Владивосток: Изд-во «Дальнаука», 2010. — 204 с. , .
- Исследование процесса переполяризации сегнетоэлектрических кристаллов в инжекционном режиме // Журнал экспериментальной и теоретической физики. — 2009. — Т. 136, № 1(7). — С. 105–109. , .
- Применение метода конечных элементов. — М: Мир, 1979. — 388 с. .
- Компьютерное моделирование области взаимодействия пучков электронов с облученными сегнетоэлектрическими материалами // Вестник Иркутского государственного технического университета. — 2013. — № 3. — С. 73–79. , .
- Calculations of Mott scattering cross section // J. Appl. Phys. — 1990. — V. 68. — P. 3066–3072. — DOI: 10.1063/1.346400. — ads: 1990JAP....68.3066C. , , , .
- Twodimensional structures of ferroelectric domain inversion in LiNbO3 by direct electron beam lithography // J. Appl. Phys. — 2003. — V. 93. — P. 9943–9947. — DOI: 10.1063/1.1575918. — ads: 2003JAP....93.9943H. , , , , , , , .
- Monte-Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis. — New York: Oxford University Press, 1995. — 198 p. .
- Effect of electron beam writing parameters for ferroelectric domain structuring LiNbO3:Nd3+ // Optical Materials. — 2009. — V. 31. — P. 1777–1780. — DOI: 10.1016/j.optmat.2008.12.033. — ads: 2009OptMa..31.1777M. , , , .
- A simulation of electron beam induced charging-up of insulators // Electron microscopy. — 1998. — V. 1. — P. 177–178. , , .
- Finite Element Method Using MATLAB (Mechanical Engineering). — CRC-Press, 1996. — 544 p. , .
Indexed in Scopus
Full-text version of the journal is also available on the web site of the scientific electronic library eLIBRARY.RU
The journal is included in the Russian Science Citation Index
The journal is included in the RSCI
International Interdisciplinary Conference "Mathematics. Computing. Education"
Copyright © 2009–2024 Institute of Computer Science