A computational study of tool for wire drawing

 pdf (106K)  / Annotation

List of references:

  1. Волоки алмазные. Технически условия. — М: Издательство стандартов, 1991. — 9 с. — ГОСТ 6271–90.
  2. В. П. Карпушенко, В. М. Золотарев, С. В. Бузько, А. А. Науменко. Определение усилия волочения круглых профилей // Кабели и провода. — 2008. — № 2. — С. 26–31.
  3. В. Л. Колмогоров. Механика обработки металлов давлением. — Екатеринбург: Издательство УГТУ-УПИ, 2001. — 689 с.
  4. О. М. Огородникова, В. С. Литвинов. Кинетика упорядочения сплавов платина–никель–медь по типу L10 // Физика металлов и металловедение. — 1993. — Т. 75, № 6. — С. 113–117.
  5. О. М. Огородникова. Исследовательская функция программ САЕ в сквозных технологиях CAD/CAE/CAM // Вестник машиностроения. — 2012. — № 1. — С. 25–31.
  6. О. М. Огородникова. Компьютерный инженерный анализ. — Екатеринбург: УрФУ, 2009. — 205 с.
  7. О. М. Огородникова, В. С. Литвинов, И. Н. Саханская. Текстура, структура и пластичность упорядоченного сплава NiPt // Физика металлов и металловедение. — 1990. — Т. 70, № 7. — С. 147–151.
  8. И. Л. Перлин, М. З. Ерманок. Теория волочения. — М: Металлургия, 1971. — 447 с.
  9. Сайт изготовителя:Екатеринбургский завод по обработке цветных металлов [электронный ресурс]. — 2014. — https://ezocm.ru/.
  10. В. В. Харитонов, Е. М. Бородин, М. Ю. Бородин, А. В. Ананьев. Конечно-элементное моделирование непрерывной прокатки труб. — Екатеринбург: УрФУ, 2011. — 139 с.
  11. G. A. Attard, J. Y. Ye, A. A. Brew, et al. Characterisation and electrocatalytic activity of PtNi alloys on Pt{111} electrodes formed using different thermal treatments // Journal of Electroanalytical Chemistry. — 2014. — V. 716. — P. 106–111. — DOI: 10.1016/j.jelechem.2013.09.018.
  12. S. K. Lee, D. W. Kim, M. S. Jeong, B. M. Kim. Evaluation of axial surface residual stress in 0.82-wt% carbon steel wire during multi-pass drawing process considering heat generation // Materials and Design. — 2012. — V. 34. — P. 363–371. — DOI: 10.1016/j.matdes.2011.06.036.
  13. F. Panciera, K. Hoummada, C. Perrin, et al. Ni(Pt)-silicide contacts on CMOS devices: Impact of substrate nature and Pt concentration on the phase formation // Microelectronic Engineering. — 2014. — V. 120. — P. 34–40. — DOI: 10.1016/j.mee.2013.12.016.

Indexed in Scopus

Full-text version of the journal is also available on the web site of the scientific electronic library eLIBRARY.RU

The journal is included in the Russian Science Citation Index

The journal is included in the RSCI

International Interdisciplinary Conference "Mathematics. Computing. Education"